Spectromètres de masse



Analyse de surfaces SIMS et SNMS

Pour la détermination de la composition de surface, l'analyse des contaminants et le profilage en profondeur.

Le SIMS est une technique d'analyse de surface à haute sensibilité pour la détermination de la composition de surface, l'analyse des contaminants et pour le profilage en profondeur dans les couches de surface supérieures de l'échantillon.

Hard Disk

Equipements relatifs

SIMS Workstation

EQS

MAXIM

IG5C

IG20

Compact SIMS

Vue d'ensemble

Le SIMS est une technique d'analyse de surface à haute sensibilité pour la détermination de la composition de surface, l'analyse des contaminants et pour le profilage en profondeur dans les couches de surface supérieure de l'échantillon.

Appliquée à l'analyse dans les premiers microns de la surface, les systèmes SIMS Hiden fournissent des profils de profondeur avec une résolution de 2 nanomètres.

La station SIMS Hiden fournit de hautes performances pour les applications de SIMS statiques et dynamiques, pour l'analyse détaillée de la composition de la surface et le profilage.

Le centre d'imagerie élémentaire SIMS Hiden permet la cartographie chimique de surface en haute résolution.

Des composants installables facilement sont disponibles pour la mise à niveau des équipements existants d'analyse de surface avec des installations SIMS.

Vue d'ensemble

Le SIMS est une technique d'analyse de surface à haute sensibilité pour la détermination de la composition de surface, l'analyse des contaminants et pour le profilage en profondeur dans les couches de surface supérieure de l'échantillon.

Appliquée à l'analyse dans les premiers microns de la surface, les systèmes SIMS Hiden fournissent des profils de profondeur avec une résolution de 2 nanomètres.

La station SIMS Hiden fournit de hautes performances pour les applications de SIMS statiques et dynamiques, pour l'analyse détaillée de la composition de la surface et le profilage.

Le centre d'imagerie élémentaire SIMS Hiden permet la cartographie chimique de surface en haute résolution.

Des composants installables facilement sont disponibles pour la mise à niveau des équipements existants d'analyse de surface avec des installations SIMS.